LCP-25 eksperimentinis elipsometras

Trumpas aprašymas:

Rankinis elipsinis poliarimetras naudoja ekstinkcijos metodą, kad išmatuotų plėvelės storį ir lūžio rodiklį, ir rankiniu būdu reguliuoja bandymo proceso nuokrypį ir nukrypimo kampą.Elipsometrija plačiai naudojama matuojant dielektrinę ploną plėvelę ant kieto pagrindo.Plėvelės storio matavimo metodu jį galima išmatuoti iki ploniausio ir didžiausio tikslumo.

Siųskite mums el

Produkto detalė

Produkto etiketės

Specifikacijos

apibūdinimas	Specifikacijos
Storio matavimo diapazonas	1 nm ~ 300 nm
Incidento kampo diapazonas	30º ~ 90º , Klaida ≤ 0,1º
Poliarizatoriaus ir analizatoriaus susikirtimo kampas	0º ~ 180º
Disko kampinė skalė	2º per skalę
Min.Vernier skaitymas	0,05º
Optinio centro aukštis	152 mm
Darbo etapo skersmuo	Φ 50 mm
Bendri matmenys	730x230x290 mm
Svoris	Maždaug 20 kg

Dalių sąrašas

apibūdinimas	Kiekis
Elipsometro vienetas	1
He-Ne lazeris	1
Fotoelektrinis stiprintuvas	1
Nuotraukų langelis	1
Silicio plėvelė ant silicio substrato	1
Analizės programinės įrangos kompaktinis diskas	1
Instrukcijų vadovas	1