LEEM-3 elektrinis lauko kartografavimo aparatas

Trumpas aprašymas:

Inžinerinėse technologijose dažnai reikia žinoti elektrodų sistemos elektrinio lauko pasiskirstymą, norint ištirti elektronų ar įkrautų dalelių judėjimo dėsnį elektriniame lauke.Pavyzdžiui, norint ištirti elektronų pluošto fokusavimą ir nukreipimą osciloskopo vamzdyje, būtina žinoti elektrodo elektrinio lauko pasiskirstymą osciloskopo vamzdyje.Elektronų vamzdyje turime ištirti naujų elektrodų įvedimo įtaką elektronų judėjimui, taip pat turime žinoti elektrinio lauko pasiskirstymą.Paprastai tariant, norint išsiaiškinti elektrinio lauko pasiskirstymą, galima naudoti analitinį metodą ir imitacinio eksperimento metodą.Bet tik keliais paprastais atvejais elektrinio lauko pasiskirstymą galima gauti analitiniu metodu.Bendrajai arba sudėtingai elektrodų sistemai jis paprastai nustatomas modeliavimo eksperimentu.Modeliavimo eksperimento metodo trūkumas yra tas, kad tikslumas nėra didelis, tačiau bendram inžineriniam projektui jis gali atitikti reikalavimus.